Antlia

Antlia SII 3 nm Pro 2"

Brak jeszcze opinii o tym produkcie

Teraz od 1 899,00 zł

Oferty sklepów

Giełda

Ceny w ostatnim roku

1 699 2 029 2 360 2 690 12 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11

Kreską zaznaczamy miesiąc niepełny: taki, który jeszcze trwa albo w którym oferta pojawiła się dopiero w jego trakcie. Obejmuje krótszy okres niż pozostałe, a w trwającym mogą dojść kolejne ceny.

  • Najniższa cena 1 899,00 zł
  • Średnia cena 2 092,67 zł
  • Najwyższa cena 2 490,00 zł
  • Trend cenowy Stabilna

Ceny na giełdzie w ostatnim roku

0 zł 12 01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 Brak danych
  • Najniższa cena Brak danych
  • Średnia cena Brak danych
  • Najwyższa cena Brak danych
  • Trend cenowy Brak danych
Reklama

Oferty sklepów

Sklep Cena Dostępność
teleskopy.pl 1 899,00 zł Dostępny Kup tutaj
deltaoptical.pl 1 899,00 zł Dostępny Kup tutaj
astroshop.pl 2 480,00 zł Dostępny Kup tutaj

Ceny sprawdzone: 15.11.2026, 00:13. Ceny i dostępność pobieramy automatycznie ze stron sklepów i w sklepie mogą być już inne. Nie są ofertą w rozumieniu art. 66 Kodeksu cywilnego: wiąże cena, którą sklep pokaże przy składaniu zamówienia (regulamin, pkt 9).

Oferty z giełdy

Żaden użytkownik nie wystawił jeszcze tego modelu na giełdzie.

Opis

Antlia SII 3 nm Pro 2" to filtr pasmowy marki Antlia przeznaczony do obserwacji astronomicznych. Jest przeznaczony zarówno dla zaawansowanych astronomów amatorów, jak i profesjonalistów, którzy potrzebują dokładnego narzędzia do wąskopasmowej obserwacji mgławic. Filtr ma średnicę 2 cali i grubość 2 mm z tolerancją ±0,05 mm. Jego głównym zastosowaniem jest wzmocnienie kontrastu i wyodrębnienie szczegółów w obiektach takich jak mgławice emisyjne, szczególnie w obszarach o niskiej jasności powierzchniowej.

Budowa i optyka

Filtr SII 3 nm Pro 2" to dokładnie wykonany element optyczny o okrągłym kształcie, zaprojektowany do wąskopasmowej obserwacji i rejestracji emisji siarki (SII) o długości fali 671,6 nm. Jego konstrukcja daje maksymalną transmisję powyżej 88% w zakresie przepuszczanego pasma.

Główną cechą filtra jest jego zdolność do pracy z szybkimi systemami optycznymi o światłosile do f/3, przy zachowaniu minimalnych strat przepuszczalności i braku przesunięcia widmowego. Filtr blokuje niepożądane pasma z gęstością optyczną OD5 (300-1000 nm).

Wykonany z pojedynczego substratu optycznego, filtr ma równoległość 30" i dokładność wykonania na poziomie λ/4 (RMS) oraz minimalizuje aberracje i zniekształcenia obrazu. Czernione krawędzie dodatkowo redukują refleksy. Indeks jakości powierzchni 60/40 (wg normy MIL-O-13830) potwierdza jego dokładność.

Do czego służy

Filtr wąskopasmowy SII 3 nm Pro 2" jest specjalistycznym narzędziem przeznaczonym do astrofotografii mgławic, szczególnie tych emitujących światło w linii SII. Jego głównym zadaniem jest uchwycenie subtelnych struktur mgławic emisyjnych, planetarnych oraz pozostałości po supernowych. Dzięki bardzo wąskiemu pasmu transmisji (FWHM = 3 nm) filtr minimalizuje zakłócenia świetlne.

Filtr ten jest niezbędny w technice SHO (Hubble Palette), obok pasm Hα i OIII i pozwala na rejestrację pełnego spektrum kolorów mgławic. Jego transmisja przekraczająca 88% w centrum pasma daje silny sygnał, a strome zbocze profilu spektralnego redukuje halo wokół jasnych gwiazd i poprawia jakość zdjęć. SII 3 nm Pro 2" sprawdza się zarówno pod ciemnym niebem, jak i w warunkach miejskich, gdzie zanieczyszczenie światłem jest wysokie. Najlepsze efekty osiąga się, używając go z kamerami monochromatycznymi i pozwala na wydobycie najdrobniejszych detali w obiektach astronomicznych.

Wymiary i masa

Teleskop SII 3 nm Pro 2" ułatwia transport i montaż. Niewielkie rozmiary i waga pozwalają na łatwe przenoszenie sprzętu w teren.

Parametry techniczne

typ filtra filtr pasmowy
średnica filtra 2"
grubość filtra 2 ± 0,05 mm
kształt filtra okrągły
przepuszczane pasma SII (671,6 nm)
położenie maksimum piku przepuszczalności 671,6 nm
szerokość połówkowa pasma (FWHM) 3 nm
maksymalna transmisja >88%
skuteczność blokowania zanieczyszczenia świetlnego >99,999%
ekwiwalent gęstości optycznej dla linii blokowanych OD5 (300 - 1000 nm)
indeks jakości powierzchni (wg. normy MIL-O-13830) 60/40
równoległość 30"
dokładność wykonania (RMS) λ/4

Opinie

Zaloguj się, aby dodać opinię o tym produkcie.

Nikt jeszcze nie ocenił tego produktu - bądź pierwszy!

Pytania i odpowiedzi

Zaloguj się, aby zadać pytanie o ten produkt.

Nikt jeszcze nie zadał pytania o ten produkt - bądź pierwszy!